Vsebina
Transmisijski elektronski mikroskop (TEM) in skenirajoči elektronski mikroskop (SEM) sta mikroskopski metodi za ogled izjemno majhnih vzorcev. TEM in SEM se lahko primerjata v metodah priprave vzorcev in uporabi posamezne tehnologije.
TEM
Obe vrsti elektronskih mikroskopov bombardirajo vzorec z elektroni. TEM je primeren za preučevanje notranjosti predmetov. Obarvanje zagotavlja kontrast, rezanje pa daje ultra tanke vzorce za pregled. TEM je primeren za pregled virusov, celic in tkiv.
SEM
Za vzorce, ki jih pregleda SEM, je potreben prevodni premaz, kot je zlato-paladij, ogljik ali platina, da zberejo odvečne elektrone, ki bi zakrili sliko. SEM je primeren za ogled površine predmetov, kot so makromolekularni agregati in tkiva.
Postopek TEM
Elektronska pištola proizvaja tok elektronov, ki jih usmerja kondenzatorska leča. Kondenzirani snop in oddani elektroni so z objektivno lečo usmerjeni v sliko na zaslonu slike s fosforjem. Temnejša območja slike kažejo, da se je prenašalo manj elektronov in da so ta območja debelejša.
Postopek SEM
Tako kot pri TEM tudi leča proizvaja elektronski žarek in kondenzira. To je leča na SEM. Druga leča tvori elektrone v tesen, tanek snop. Nabor tuljav skenira žarek na podoben način kot televizija. Tretja leča usmeri snop v želeni odsek vzorca. Žarek lahko prebiva na določeni točki. Žarek lahko skenira celoten vzorec 30-krat na sekundo.